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JX-2000顆粒圖像分析儀JX2000顯微顆粒圖像分析儀粒度儀

一、應(yīng)用范圍
    適用于石墨、磨料、陶瓷、碳化硅、硅灰石、金剛石、金屬粉、碳粉、藥粉、涂料、水泥、硬質(zhì)合金、催化劑、云母粉、填料等各種粉末物料顆粒的形貌觀察和粒度分析。
二、性能特點(diǎn)
1. JX-2000顆粒圖像分析儀，工業(yè)級(jí)攝像頭高速采集，光學(xué)顯微鏡放大成像，圖像快速顯示于電腦，直接觀察顆粒形貌，軟件進(jìn)行顆粒數(shù)據(jù)處理。
2.  測(cè)量范圍：0.5μm～3000μm
3.  接口方式：USB連接。
4. 平場(chǎng)消色差物鏡，zui大分辨率0.07微米，zui大光學(xué)放大倍數(shù)1600倍，打印zui大倍數(shù)4000倍(A4幅面)。
5. 供等面積和等周長兩種基準(zhǔn)下的個(gè)數(shù)、直徑、面積、體積、圓形度等分布數(shù)據(jù)。同時(shí)提供顆粒數(shù)、D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等粒度分布數(shù)據(jù)，配有(30)多種圖像分析和處理功能，可以滿足各種圖像處理需要。
6. 對(duì)采集的圖像進(jìn)行調(diào)整高度、寬度、亮度、對(duì)比度、濾波、填充等，提高分析分辨率，網(wǎng)格標(biāo)注顆粒尺寸等功能，使測(cè)試結(jié)果更真實(shí)可靠。
7. 儀器分二種型號(hào)，技術(shù)原理、參數(shù)都相同，JX-2000A型顆粒圖像分析儀配置透射顯微鏡，JX-2000B型顆粒圖像分析儀配置透反射顯微鏡，后者還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析。
8. 顆粒形貌圖像可存盤和打印，還可輸出多種格式的測(cè)試報(bào)告。另可根據(jù)行業(yè)特殊要求，設(shè)計(jì)磨料、硅灰石等軟件。
三、   圖像分析處理功能
1.  色調(diào)處理：負(fù)像、灰度化、色調(diào)調(diào)整、亮度、對(duì)比度調(diào)整；
2.  圖像矯正：水平鏡像、垂直鏡像、90度（逆時(shí)針)、90度(順時(shí)針) 、旋轉(zhuǎn)、放大、縮小任意比例縮放等；
3.  測(cè)量單位：微米、毫米、厘米、英吋任選；
4.  圖像增強(qiáng)：對(duì)比度均衡、膨脹、腐蝕等；
5.  圖像處理：圖像銳化，邊緣平滑，二值化，邊界濾波，分析目標(biāo)擦除、孔洞填充，手工擦除，手工連接，粒子屬性查看、設(shè)置標(biāo)尺、網(wǎng)格等功能；
6.  分析參數(shù)：
（1）幾何參數(shù)：每個(gè)顆粒的質(zhì)心 X、Y 坐標(biāo)位置，像素；
（2）當(dāng)量幾何參數(shù)：等面積圓直徑，等周長圓直徑，長徑，短徑，長徑比；
（3）外接幾何參數(shù)：每個(gè)顆粒的外接圓直徑；
（4）光密度參數(shù)：圖像 R、G、B、灰度分布；
（5）形態(tài)學(xué)參數(shù)：長徑比，圓度系數(shù)；

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